Tektronix Keithley 4200A-SCS 半导体参数分析仪

4200A-SCS 是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪,可以同步查看电流电压 (I-V)、电容电压 (C-V)
和超快速脉冲式 I-V 特性。作为性能最高的参数分析仪,4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。
4200A-SCS ClariusTM 基于 GUI 的软件提供了清楚的、不折不扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时
可以投入使用的应用测试,Clarius Software 可以更深入地挖掘研究过程,快速而又满怀信心。4200A-SCS 参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配
置,不管是现在还是未来,都可以随时对系统进行升级。通过4200A-SCS 参数分析仪,通往发现之路现在变得异常简便。
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主要性能指标
I-V源测量单元(SMU)

± 210 V/100 mA或± 210 V/1 A模块

100 fA测量分辨率

选配前端放大器提供了10 aA测量分辨率

10 mHz - 10 Hz超低频率电容测量

100 mF负载电容

四象限操作

2线或4线连接

 

C-V多频率电容单元(CVU)

AC阻抗测量(C-V, C-f, C-t)

1 kHz - 10 MHz频率范围

± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源,可以扩展到± 210 V

选配CVIV多通道开关,在I-V测量和C-V测量之间简便切换

 
脉冲式I-V超快速脉冲测量单元(PMU)

两个独立的或同步的高速脉冲I-V源和测量通道

200 MSa/s,5 ns采样率

±40 V (80 V p-p),±800 mA

瞬态波形捕获模式

任意波形发生器,支持多电平脉冲波形,10 ns可编程分辨率

 

高压脉冲发生器单元(PGU)

两个高速脉冲电压源通道

±40 V (80 V p-p),± 800 mA

任意波形发生器,支持多电平脉冲波形,10 ns可编程分辨率

I-V/C-V多通道开关模块 (CVIV)

在I-V测量和C-V测量之间简便切换,无需重新布线或抬起探针

把C-V测量移动到任意端子,无需重新布线或抬起探针

支持±210 V DC偏置源

 

远程前端放大器/开关模块(RPM)

在I-V测量、C-V测量和超快速脉冲I-V测量之间自动切换

把4225-PMU的电流灵敏度扩展到数十皮安

降低电缆电容效应

 

 

典型应用
生物 FET 和传感器
MOSFET, BJT 晶体管
材料表征
非易失性存储设备
电阻率系数和霍尔效应测量
接口陷阱密度
1/f 噪声测试
NBTI/PBTI
III-V 族器件
失效分析
纳米器件
二极管和 pn 联结
太阳能电池
传感器
MEMS 器件
电化学
LED 和 OLED
 
 

 

 

 

 

 
4200-SCS

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