LT-6000 驱动电平电容测试分析（DLCP）系统
Lockinst DLCP Measurement System
驱动电平电容测试分析系统 LT-6000
驱动电平电容测试分析系统 LT-6000
特点
极宽的测试频率范围：最高可达 5MHz
精密的电容测试系统：fF 级电容检测能力
多驱动电平测试：可设置多级驱动电平，每级驱动电平自动扫描测试
便于操作的应用软件：UI 界面友好，简易参数设置，一键生成曲线图表
易于扩展：可扩展温度控制功能，实现不同温度下的 DLCP 自动测试
应用
半导体材料研究、半导体器件优化、半导体激光器、半导体故障分析
钙钛矿太阳能电池、离子缺陷分析、界面层研究
基本参数
IV&CV 测试模块：测试并绘制 I-V 和 C-V 曲线，CV 测试还可以同时绘制出
1000/C2 -V 曲线，并计算 Vbi：
DLCP 测试模块：自动测试并绘制不同驱动电平下的 C-AC Vpp 曲线，计算载流子 浓度 NDL与到结势垒的距离<X>的关系（下图以某钙钛矿太阳能电池样品为例
