白噪声对高速数据传输和电源电压影响实例分享

摘要

通过使用J7000注入AWGN，证明了加性高斯白噪声（AWGN）对差分数据线的影响。通过使用JV9000向DUT（数据缓冲IC）的电源电压（Vcc）注入噪声和杂散对Vcc的影响，验证信号完整性的下降。结合J7000和JV9000，我们演示了噪声在数据线上和Vcc的影响。

数据和IC电源电压上的随机抖动噪声

应用方向

JV7000：信号完整性工程师分析在AWGN存在时其数据链路的抗干扰能力。J7000可用于高达100 GBe的接收灵敏度测试以及IEEE 802.3的测试。

JV9000：信号完整性、集成电路设计和测试工程师，在有噪声和虚假信号存在的情况下，描述和量化其集成电路或PCB电路的性能。

J7000:

J7000系列以0.1 dB的步进引入AWGN到差分数据线。与模式生成器（pattern generator）由时钟抖动导致时间不确定性从而产生抖动不同，J7000通过在数据信号上添加噪声来产生抖动。这模拟了在现实生活中的传输环境中，噪声耦合到信号上的影响，用于串扰的接收机灵敏度测试和IEEE 802.3标准。

JV9000：

JV9000系列以0.1 dB的步进将AWGN和连续波信号引入电源线路，以模拟各种来源产生的噪声效应，包括地线反射、其他相邻电路的干扰，以及通过注入连续波来了解Vcc的阻抗特性。

J7000和JV9000的显著特征：

15 ps差分通道倾斜（skew）（J7000）

在噪声（J7000和JV9000）和CW（仅JV9000）注入中高达0.1dB的分辨率。

自定义噪声频段和功率水平，以支持各种标准和测试场景。

使用BERT测量噪声对数据线和集成电路电源的影响：

在演示设置中，BERT测试仪生成1.6 GHz的时钟数据，这些数据被输入驱动J7000的DUT。J7000向数据线注入受控的噪声。随着AWGN的数量增加，可以观察到对眼图的影响，测量总抖动和监测误码率。此外，通过JV9000噪声被注入到DUT的Vcc中，以测量噪声对Vcc的影响。

总结：

 J7000将AWGN噪声添加到数据信号中，创造了一个更真实的测试条件，以测量在信号传输过程中添加的Rj对BERT的影响。JV9000将“本土解决方案”的单个组件集成到一个远程可控的仪器中，使可重复的测量更容易、更快。