QCA1000系列采样示波器
主要特点：
· 非常适合25-32G NRZ和26.56GBd PAM4 53GBd PAM4测试
· 抖动低于150fs
· 高达3.5MS/s采样率
· 两个差分电通道
· 50GHz和32GHz采样头
· 能够在相对较小的占地面积内实现高密度、高通道数的测试解决方案
· VISEYE™可视化分析软件，具有强大的分析功能，直观易用
· 非常适合25-32G NRZ和26.56GBd PAM4 53GBd PAM4测试
· 抖动低于150fs
· 高达3.5MS/s采样率
· 两个差分电通道
· 50GHz和32GHz采样头
· 能够在相对较小的占地面积内实现高密度、高通道数的测试解决方案
· VISEYE™可视化分析软件，具有强大的分析功能，直观易用
技术指标
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项目 |
技术参数（型号1001） |
技术参数（型号1002） |
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模拟带宽 |
32GHz |
50GHz |
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等效采样率 |
3.5MHz |
3.5MHz |
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码型捕获 |
最高PRBS15 |
最高PRBS15 |
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垂直本底噪声(差分) |
1mV RMS |
1.4mV RMS |
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耦合方式 |
AC，差分或单端 |
AC，差分或单端 |
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输入接头 |
2.92mm |
2.4mm |
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最大输入电压 |
±500mVpp(单端) 1000mVpp(差分) |
±500mVpp(单端) 1000mVpp(差分) |
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抖动(低抖动模式) |
150fs RMS |
150fs RMS |
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参考时钟输入频率 |
5-16GHz |
5-16GHz |
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参考时钟输入电压 |
300-750mVpp(≥10GHz) 200-600mVpp(＜10GHz) |
300-750mVpp(≥10GHz) 200-600mVpp(＜10GHz) |
典型应用
· 发射机表征，电气高速IO特性
· 高速IC大批量测试
· 验证测试(DVT)
· 生产前测试
· 抖动和眼图测试：
· 交换机IC/卡
· GPU/CPU
· AI/ML处理IC
· PAM4 DSP
· 中继器/扩展器IC
· 开关ASIC
· 其他高速IC，如DAC、TIA和驱动器
