LT-8000 高分辨率深能级瞬态谱DLTS测试分析系统
-多种缺陷分析测试方法：深能级瞬态谱（DLTS）、驱动电平电容分析（DLCP）、等温电容瞬变谱（ICTS）和热导纳光谱（TAS）测试
-多种DLTS测试方式和数学分析模型：C-DLTS、I-DLTS、O-DLTS、D-DLTS、L-DLTS、DLTFS等
-tDOS计算（TAS和DLCP测试）
-C-V、I-V、C-f、C-t、I-t等参数扫描，自动计算内建电动势Vbi、净参杂浓度Ns等
-测试温度范围4K~800K，精度±100mK，适配恒温器（cryostat）和探针台（probe station）
-标配Semi-Insight Studio软件，界面直观，操作便捷，全自动化测试
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